高频探针的测量通常是与被测器件 (DUT) 串联进行的。因此，测试解决方案是信号路径的一部分。为确保最小回波损耗，测试解决方案必须具有与被测器件相同的阻抗系统（例如 50 Ω）。然而，如果要在闭合的信号路径中执行测量，则其必须确保信号路径不会因为测试解决方案而受到影响。如果在这种情况下通过标准测试解决方案进行测量，将会损耗 50% 的能量。其原因在于，测试解决方案与测量对象并联。为避免这种情况，INGUN 开发了一种专门的测试探针，可以实现高阻抗的信号拾取，从而确保信号路径不受影响。

一：带有集成补偿元件的高频探针HFS-840 007 051 A 4807 P1-AS（如图一）和HFS-440 007 051 A 4807 P5-AS 4M（如图二）

（图一）     

     

（图二）

二：为了指定此测量方案，将执行三端口测量，端口 1 和端口 2 与测量对象相连，端口 3 与高频探针相连（如图三）

（图三）

三：如下测量所示，试样受探针的影响很小。损失的功率降低了 20 dB。这相当于电压降低了 1/10，例如用示波器测量时。通过短接地，几乎可以避免寄生耦合。该测试解决方案特别适用于用示波器自动测试组件。（如图四）

（图四）

《深圳市永佳信电子有限公司》作为德国INGUN中国总代理，全球优秀代理商，勇居全球代理商销量第二名，二十年来，我们只专注于销售原装正品，在中国地区广受好评！

想要了解更多信息，请与我们联系

ingun 中国区代理商--深圳市永佳信电子有限公司

联系电话：0755-83040889  /135 3022 5502

全国免费服务电话：400 883 2289

地址：深圳市福田区福虹路世贸广场A座1808